Bottura L., Usoskin A., Larbalestier D., Senatore C., Rutt A., Dietrich R., Kirchhoff L., Schlenga K., Selvamanikam V., Abraimov D.
Ключевые слова: deposition setup, presentation, HTS, YBCO, coated conductors, long conductors, PLD process, buffer layers, texture, fabrication, critical caracteristics, critical current, uniformity, fluctuations, magnetic field dependence, temperature dependence, microstructure, percolation characteristics, width, length
Balaev D.A., Petrov M.I., Shaykhutdinov K.A.(smp@iph.kr.asn.ru), Gokhfeld D.M., Kuzmin Y., Popkov S.I.
Nakamura T.(tk_naka@kuee.kyoto-u.ac.jp), Ogama Y.
Parks D., Gandini A., Weinstein R.(weinstein@uh.edu), Mayes B., Sawh R.
Kwon C., Wang L.B., You G.(soileep@hotmail.com), Barraca K.R.(kbarraca@yahoo.com), Waller K.(kauimaui@hotmail.com), Mahoney J.M.(jmattmahoney@hotmail.com), Young J.L.(jeremyrainman@yahoo.com)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, IBAD process, RABITS process, percolation characteristics, experimental results, fabrication
Jung J.(jung@phys.ualberta.ca.), Chow K.H., Egilmez M., Welsh A.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.